Срок поверки (калибровки) указан с даты поступления оплаты, если оплата поступила в срок действия счета. Поверка (калибровка) осуществляется сторонней организацией. Исполнитель не несет ответственность за увеличение сроков поверки (калибровки). В случае увеличения сроков поверки (калибровки) Заказчик уведомляется дополнительно.
Генерация мощного токового импульса до 10,5 А/1000 Вт (модель 2430)
Возможности развертки генерации/измерения (линейные и логарифмические ступенчатые развертки, пользовательская развертка по списку)
Возможность сохранения в памяти пользовательского списка для тестирования (до 100 точек)
Сохранение показаний и установок. Память на 5000 значений при 5 Ѕ - разрядов (2 буфера по 2500 точек) и семь настроек (пять пользовательских настроек, заводская настройка по умолчанию, *RST (установка по умолчанию на 0)
6-проводное измерение сопротивления с помощью программируемого источника тока или источника напряжения с V или I зажимом
Высокая скорость проведения операций. При 4 Ѕ - разрядах до 2030 измерений во внутреннюю память и 1754 измерения в GPIB
Встроенный компаратор для быстрого проведения тестирования "годен/негоден" (до 12 стадий предельных испытаний)
Цифровой порт ввода/вывода для обеспечения операций сортировки по контейнерам или состыковки с манипулятором электронных компонентов.
Одновременные измерения с использованием дистанционного интерфейса.
Функция проверки контактов (опционально, только для моделей с индексом -С)
Математические выражения. Пять встроенных, до пяти определяемых пользователем (только шина).
3 скорости измерения: высокая, средняя, нормальная
Калибровка при закрытом кожухе. Прибор может быть прокалиброван либо с лицевой панели, либо посредством дистанционного интерфейса
Состыковка по схеме запуска с коммутационной аппаратурой Keithley серии 7000
Программное обеспечение LabTracer 2.0 (Freeware) графическим интерфейсом позволяет подключать и конфигурировать 8 источников/измерителей серий 2600 и 2400
Характеристики источника/измерителя по напряжению
Точность в режиме локального и дистанционного управления
Диапазон
Программное разрешение
Точность* источника
±(% от шкалы + В)
Разрешение измерения
Точность* измерителя
±(% от шкалы + В)
Максимальные значения
200.000 мВ
5 мкВ
0,02% + 600 мкВ
1 мкВ
0,012% + 300 мкВ
±21 В @ ±1,05 А
±210 В @ ±105 мА
2.00000 В
50 мкВ
0,02% + 600 мкВ
10 мкВ
0,012% + 300 мкВ
20.0000 В
500 мкВ
0,02% + 2,4 мВ
100 мкВ
0,015% + 1,5 мВ
200.000 В
5 мВ
0,02% + 24 мВ
1 мВ
0,015% + 10 мВ
* Точность источника и измерителя указана за 1 год и при температуре 23°C ±5°C
Характеристики источника/измерителя по току
Точность в режиме локального и дистанционного управления
Диапазон
Программное разрешение
Точность* источника
±(% от шкалы + А)
Разрешение измерения
Точность* измерителя
±(% от шкалы + А)
Максимальные значения
1.00000 мкА
50 пА
0,035% + 600 пА
10 пА
0,029% + 300 пА
±1,05 А @ ±21 В
±105 мА @ ±210 В
10.0000 мкА
500 пА
0,033% + 2 нА
100 пА
0,027% + 700 пА
100.000 мкА
5 нА
0,031% + 20 нА
1 нА
0,025% + 6 нА
1.00000 мА
50 нА
0,034% + 200 нА
10 нА
0,027% + 60 нА
10.0000 мА
500 нА
0,045% + 2 мкА
100 нА
0,035% + 600 пА
100.000 мА
5 мкА
0,066% + 20 мкА
1 мкА
0,055% + 6 мкА
1.00000 А
50 мкА
0,27% + 900 мкА
10 мкА
0,22% + 570 мкА
* Точность источника и измерителя указана за 1 год и при температуре 23°C ±5°C
Измерение сопротивления
Локальные и дистанционные датчики
Диапазон
Стандартное разрешение
Тестовый ток
Номинальная точность
±(% от шкалы + Ом)
Повышенная точность
% от шкалы + Ом)
<0.200 Ом
---
---
Iacc ист + Vacc изм
Iacc ист + Vacc изм
2.00000 Ом
10 мкОм
---
Iacc ист + Vacc изм
Iacc ист + Vacc изм
20.0000 Ом
100 мкОм
100 мА
0,10% + 0,003 Ом
0,07% + 0,001 Ом
200.000 Ом
1 мОм
10 мА
0,08% + 0,03 Ом
0,05% + 0,01 Ом
2.00000 кОм
10 мОм
1 мА
0,07% + 0,3 Ом
0,05% + 0,1 Ом
20.0000 кОм
100 мОм
100 мкА
0,06% + 3 Ом
0,04% + 1 Ом
200.000 кОм
1 Ом
10 мкА
0,07% + 30 Ом
0,05% + 10 Ом
2.00000 МОм
10 Ом
1 мкА
0,11% + 300 Ом
0,05% + 100 Ом
20.0000 МОм
100 Ом
1 мкА
0,11% + 1 кОм
0,05% + 500 Ом
200.000 МОм
1 кОм
100 нА
0,66% + 10 кОм
0,35% + 5 кОм
> 200.000 МОм
---
---
Iacc ист + Vacc изм
Iacc ист + Vacc изм
* Точность источника и измерителя указана за 1 год и при температуре 23°C ±5°C
Снятие прямой и обратной вольтамперной характеристики диода при помощи источника измерителя Keithley 2400 Полупроводники уже давно получили широкое применение в самых различных областях. Практически не один электронный аппарат не обходится без использования полупроводниковых электронных компонентов, будь то диоды, тиристоры, транзисторы и т.п. Поэтому, естественно, что одной из наиболее востребованных измерительных задач является их автоматическое тестирование и измерение характеристик. Относительно недорогим решением данной измерительной задачи может стать использование источников-измерителей Keithley серий 2400 и 2600A/B в сочетании с графической средой LabTracer. Благодаря графическому интерфейсу LabTracer управление прибором осуществляется с персонального компьютера, а задание параметров тестирования, измерение характеристик компонентов и графическое отображение вольт-амперных характеристик производится без программирования.
Знакомство с методами измерений малой мощности, малого напряжения и малого сопротивления. Наноматериалы и наноустройства в последнее время находят все более широкое применение в различных областях, в т.ч., например, полупроводниковой индустрии. Публикация Роберта Грина (Robert Green) - ведущего специалиста компании Keithley Instruments является наглядным пособием, в которой представлены, как теоретические основы, так и практические советы и рекомендации по измерению малой мощности, малого напряжения, малого сопротивления и других характеристик графена, углеродных нанотрубок, других наноматериалов и наноустройств.
Что такое импульсные и сверхбыстрые измерения ВАХ? Какими средствами их можно реализовать?
Ответить на эти и связанные с ними вопросы поможет вебинар на русском языке, проводимый специалистами компании Tektronix. В ходе вебинара будет рассказано о трех ключевых типах измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ). Ключевое внимание будет уделено импульсным и ультрабыстрым измерениям ВАХ при помощи системы измерения параметров полупроводников Keithley 4200-SCS.
Сверхбыстрые измерения ВАХ охватывают широкий диапазон применений, среди которых:
общее тестирование устройств в импульсном режиме: МОП транзисторы, резисторы, диоды, конденсаторы и т.п.;
В описании системы измерения параметров полупроводниковKeithley 4200-SCSна нашем сайте есть раздел - "Ультрабыстрое тестирование", в котором можно ознакомиться с двумя видами генераторов импульсов:
Генератор импульсов типа 4220-PGU
Модуль ультрабыстрого тестирования 4225-PMU
Для ультрабыстрого тестирования NBTI/PBTI полупроводников рекомендуется опция 4200-BTI-A про которую также можно прочитать в разделе - "Ультрабыстрое тестирование".
Рекомендации по выбору прибора Keithley для снятия ВАХ устройств полупроводниковых устройств Одной из основных измерительных задач связанных с тестированием электронных компонентов, в частности - полупроводников, является снятие их вольт-амперной характеристики (ВАХ). Особенно актуально данный вопрос стоит для компонентов нано- и молекулярной электроники. Помочь в выборе необходимого прибора могут рекомендации приведенные в этой публикации.
Рекомендации по выбору прибора Keithley при измерении сопротивления наноматериалов При измерении сопротивления наноматериалов на различной основе может возникнуть проблема выбора необходимого для решения этой задачи измерительного прибора. Приведенное краткое руководство позволяет облегчить измрение сопротивления нанотрубок, нанопроволоки и нановолокон
Вся информация на сайте носит справочный характер и не является публичной офертой, определяемой положениями статьи 437 Гражданского кодекса Российской Федерации.
Технические параметры и комплектность поставки товара могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
Приведённые на сайте цены являются ориентировочными и на момент заказа требуют уточнения.
