Одной из основных измерительных задач связанных с тестированием электронных компонентов, в частности - полупроводников, является снятие их вольт-амперной характеристики (ВАХ). Особенно актуально данный вопрос стоит для компонентов нано- и молекулярной электроники. Помочь в выборе необходимого прибора могут рекомендации приведенные в этой публикации.
При измерении сопротивления наноматериалов на различной основе может возникнуть проблема выбора необходимого для решения этой задачи измерительного прибора. Приведенное краткое руководство позволяет облегчить измрение сопротивления нанотрубок, нанопроволоки и нановолокон
Рекомендации по выбору измерительных приборов Keithley в задачах связанных со снятием импульсных ВАХ наноматериалов, нанопроводников, экспериментальных наноустройств
Получить измерительные задачи по RSS