Тестирование полупроводников и полупроводниковых приборов

C-V метрия (снятие вольт-фарадных характеристик)

Измерение зависимости емкости диэлектрических / полупроводниковых слоев от приложенного напряжения и частоты...

Измерение параметров биполярных транзисторов

Измeрение параметров биполярных транзисторов. Определение параметров (снятие ВАХ) по двум каналам: база/эмиттер и коллектор/эмиттер. Автоматическая сортировка и отбраковка биполярных транзисторов...

Измерение Холловской подвижности полупроводниковых материалов

Измерения на эффекте Холла полезны для характеристики практически всех материалов, используемых при производстве полупроводников. Их часто используют для определения характеристик тонких пленок материалов для солнечных элементов / фотоэлектрических элементов, а также органических полупроводников и наноматериалов, таких как графен.

Использование метода линейного изменения скорости для выполнения квазистатических измерений C-V с помощью анализатора параметров полупроводников Keithley 4200A-SCS

Современная электрофизика полупроводников немыслима без измерения вольт-фарадных характеристик (ВФХ), или т.н. CV-метрии, что подразумевает измерение ёмкости полупроводниковых структур как функции от приложенного постоянного напряжения смещения. В некоторых случаях требуется метод измерения на постоянном токе. Такой метод называют квазистатическими измерениями C-V, поскольку они выполняются на очень низкой тестовой частоте, то есть почти на постоянном токе. Квазистатические измерения C-V можно выполнять с помощью анализатора параметров полупроводников Keithley 4200-SMU с предусилителями, используя метод линейного изменения скорости.

Как протестировать мощные высоковольтные IGBT транзисторы?

У инженеров, работающих с мощными силовыми устройствами, например IGBT транзисторами возникает необходимость в измерении их параметров. Как произвести тестирование новым высоковольтным источником измерителем Keithley 2657A? Какую использовать оснастку и схему подключения? На эти и ряд других вопросов поможет ответить данная видеопубликация…

Оперативные измерения значения порогового напряжения в задачах связанных с воздействием температуры на характеристики тестируемых устройств

Изучение проблем возникающих при изменении температуры очень важно, как в аналоговых, так и цифровых устройствах. Например, в логических устройствах и устройствах памяти, изменение значение порога всего на 10% может привести к сбою работы всего устройства. Аналогично, для аналоговых устройств, таких как, например, согласованная пара транзисторов, малейшее изменение порога также приведет к сбою. Т.к. эти процессы могут быть очень кратковременные (миллисекунды), то для этих целей, необходимо применять быстродействующие источники-измерители, обеспечивающие период между операциями существенно меньше данных значений. Так для серии 2600 этот период меньше 100 мкс.

Определение порогового напряжения МОП-транзистора

Одной из наиболее важнейших характеристик определяющих работу МОП-транзистора является значение порогового напряжения. Как измерить пороговое напряжение МОП-транзистора? Какие существуют методы измерения? Как автоматизировать данный процесс?

Снятие ВАХ (вольт-амперных характеристик) диодов

Измeрение ВАХ п/п диодов: определение прямого напряжения, напряжения пробоя, тока утечки, полярности и др. Автоматическая сортировка и отбраковка диодов...

Снятие вольт-амперных характеристик (ВАХ) с помощью мощного источника-измерителя Keithley 2651A

В ассортименте прецизионного оборудования, поставляемого НПП Эликс особое место занимает мощный прецизионный источник-измеритель Keithley 2651A. В импульсном режиме мощность может достигать 2 кВт!!! (±40 В, ±50 А),а в обычном (не импульсном) режиме до 200 Вт (10 В@20А 10 В@10А 40 В@5А). Keithley 2651A может быть сконфигурирован как: прецизионный генератор напряжения и тока, импульсный генератор напряжения и тока, прецизионный источник питания, цифровой мультиметр, электронную нагрузку и электронный триггер. Ознакомиться с возможностями Keithley 2651A, увидеть как правильно его подключить для тестирования устройств, посмотреть работу с программным обеспечением TCP Express поможет новая видеопубликация….

Снятие вольт-амперных характеристик с помощью осциллографа

Для быстрого обнаружения неисправных компонентов посредством анализа их вольт-амперных характеристик используется тестер компонентов. Но данный прибор может стоить довольно дорого и часто не требуется измерять параметры с высокой точностью, а необходимо просто проанализировать работоспособность того или иного электронного компонента. Можно ли это сделать при помощи осциллографа?

Решения 1 - 10 из 16
Начало | Пред. | 1 2 | След. | Конец

Получить измерительные задачи по RSS