Компания Keithley Instruments получает награду за систему измерений полупроводников

27.08.2008

Компания Keithley Instruments, лидер в создании решений в области измерительной техники, объявила о получении престижной награды журнала Semiconductor International «Лучший продукт по мнению редактора» за свою систему измерения полупроводников 4200-CVU, предназначенной для ускорения и облегчения C-V измерений (снятия вольт-фарадных характеристик).

Журнал проводит ежегодные номинации «найти и наградить продукты, созданные компаниями, показывающими непревзойденный уровень мастерства» в индустрии полупроводников.

«C-V измерения  становятся все более важной частью при  исследовании и разработке полупроводников», - заявил Марк Хоерстен (Mark Hoersten), вице-президент по развитию бизнеса компании Keithley. «Модель 4200-CVU - это быстрый и простой в использовании измерительный инструмент, который жизненно необходим для исследователей и разработчиков, использующих новые материалы полупроводников для электронных устройств нового поколения, таких, как Смарт-фоны, лэптопы, ноутбуки и др.».

Церемония награждения прошла в середине июля в рамках Западно-торговой выставки SEMICON в Сан-Франциско.
Информация о поставщике:  Keithley