|
|
|||||||
|
Поиск
Бренды
Информация
Авторизация
|
Источники-измерители Keithley 2600-серии: автоматизированное высокопроизводительное тестирование полупроводниковых диодов
14.07.2008 Источники-измерители KEITHLEY 2600-серии были разработаны, как комбинированные приборы, сочетающие в себе источники питания и тока в комплексе с измерительными приборами, которые возможно использовать для быстрого и легкого снятия ВАХ. Одним из возможных применений данных источников-измерителей являются задачи связанные с тестированием диодов.
При испытаниях диодов на работоспособность наиболее часто тестирование проводят по 3-м показателям: тестирование прямого напряжения Uпр (UF), тестирование напряжения пробоя Uпроб (UR), тестирование тока утечки Iут (IR). В настоящее время тестировщики применяются для этих целей несколько независимых устройств таких, как: цифровой мультиметр, источник напряжения, источник тока. Комплекс из таких устройств занимают большой объем на рабочем месте и, естественно, они не являются мобильными. Кроме того, существенно увеличивается время обработки параметров, снижается производительность, возникают дополнительные погрешности и искажения, что существенно влияет на точность тестирования. В дополнение к 3-м вышеуказанным параметрам, важным моментом является определение полярности диодов. В ряде случаев, например, при тестировании SOD диодов, это не всегда удается определить полярность автоматически. В источниках-измерителях Keithley 2600-серии реализована такая возможность 2-мя способами: используя тестовые сигналы с изменяющейся полярностью или при помощи программного триггера. Отличительной особенностью 2600-серии является наличие встроенного TSP- процессора сценариев (Test Script Processor) и нового межблочного интерфейса (TSP-LinkTM). Наличие программного обеспечения Test Script Builder позволяет создавать, изменять и загружать тестовые сценарии с использованием программного редактора, аналогичного Visual Basic. Также имеется возможность загружать в тестовые программы приложения написанные на других языках программирования, таких как Visual Basic, Visual C/C++ или LabVIEW. Предлагаем Вам ознакомится со Статьей о применении источников-измерителей Keithley 2600-серии в задачах по тестированию диодов (на англ. языке), посвященной подробному изложению типичного решения такой задачи в услвоиях массового производства. Кратко о содержании статьи: Статья разделена на несколько разделов и подразделов: Введение. Рассмотрены основные понятия тестирования диодов, указаны основные характеристики по которым проводятся измерения при тестировании диодов. Описание тестирования В разделе описываются методики измерения характеристик диодов, указываются пороговые значения прямого напряжения, напряжения пробоя и тока утечки на которые проверяются при тестировании диоды, подробно рассматриваются способы определения полярности. Конфигурация систем В данном разделе приведена конфигурация тестовых систем на базе Keithley 2600-серии, рассмотрена схема подключения, обмена потоками данных. Для понимания порядка работы измерительной системы приведен алгоритм работы системы в случаях, если полярность диода известна или, если, она - неизвестна. Использование TSP- процессора и тестовый сценарий Раздел посвящен объяснению, что представляет из себя TSP-процессор, разъясняется работа программного обеспечения Test Script Builder, порядок загрузки сценариев в Keithley 2600-серии. Отдельным подразделом приведен пример тестовой программы для TSP- процессора с подробным пошаговым описанием работы программы. Отдельным подразделом выделено применение Keithley 2600-серии в тестировании диодных матриц и массивов с применением синхронного мультиплексора. Типичные ошибки В данном разделе рассматриваются типичные ошибки и неточности измерений возникающие при тестировании диодов, даны рекомендации по их исключению для получения более точных результатов. Информация по темe: Информация о поставщике: Keithley Материалы по теме:
Решения
Новости ЭЛИКС
Распродажи, скидки, спецпредложения
|
